介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过介电常数测试仪进行测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器可用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由测试装置（夹具）、高频Q表、数据采集和自动测量控件、及LKI-1型电感器组成。

测试前开机预热30分钟。

把测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈。（如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。）

被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法。）

调节测试夹具的测微杆，使测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。

1. 再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值最大值）上。

1. 取出测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值最大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4。

根据公式计算被测样品的介电常数:Σ＝D2 / D4。